Your email was sent successfully. Check your inbox.

An error occurred while sending the email. Please try again.

Proceed reservation?

Export
  • 1
    ISSN: 1618-2650
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Notes: Summary The composition of deep-buried conductive layers formed by 6 MeV high dose Ni implantation into silicon at 450 K has been studied using AES and SIMS. For a dose of 1.3 × 1018 Ni/cm2, AES analysis yields a Ni to Si ratio close to NiSi2 stoichiometry at profile maximum, as expected from high dose Monte Carlo simulations. In this region the shape of the Si LVV Auger line indicates the presence of NiSi2. TEM/XTEM investigations reveal a continuous NiSi2 layer, showing a high density of extended defects.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Signatur Availability
    BibTip Others were also interested in ...
  • 2
    ISSN: 1618-2650
    Keywords: Anwendung eines Gitterspektrometers ; Elektronenstrahlmikroanalyse ; Vergleich mit Bleistearat- und RAP-Kristall
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Description / Table of Contents: Zusammenfassung Es wird ein Vergleich des Gitterspektrometers mit einem Bleistearat-Kristallspektrometer und einem RAP-Kristallspektrometer in der elektronenstrahlmikroanalytischen Bestimmung von B, C, N, O und F in bezug auf die meßbaren Röntgenimpulsraten, die Erfassungsgrenzen und das Auflösungsvermögen gebracht. Vor- und Nachteile werden diskutiert.
    Notes: Abstract This paper describes the performance of a grating spectrometer used in an electron microprobe analyser as compared to conventional crystal spectrometers in the analysis of boron, carbon, nitrogen, oxygen and fluorine. Detailed data for count rates, detection limits and resolution are given. Advantages and disadvantages are discussed.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Signatur Availability
    BibTip Others were also interested in ...
  • 3
    ISSN: 1618-2650
    Keywords: Analyse von Luftstaub ; Elektronenstrahlmikroanalyse ; Kaskadenimpaktor
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Description / Table of Contents: Summary This paper describes the characterization of the respirable fraction of airborne particles by impactor collection and electron probe microanalysis of the deposited material. The basic principles of the technique, the measurement and evaluation procedures are treated. It is shown that precision and accuracy of the quantitative elemental analysis of only microgram amounts of particulate matter is in the order of 10% rel. The automated analysis takes about 10 min per sample. The analytical system is used to determine the chemical composition of the solid components of urban and industrial aerosols, their content in air and the size distribution. Finally the advantages and limitations are discussed.
    Notes: Zusammenfassung Die am Impaktor gesammelten Staubteilchen werden mit Hilfe der Elektronenstrahlmikroanalyse untersucht. Das Prinzip der Methode, das Meßverfahren sowie die Auswertung werden beschrieben. Präzision und Richtigkeit liegen bei 10% rel. für μg-Proben. Eine automatisierte Analyse benötigt etwa 10-min je Probe. Das System wird eingesetzt zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung der festen Bestandteile von Stadt- und Industrie-Aerosolen, deren Gehalt in Luft sowie der Größenverteilung. Vorteile und Einschränkungen des Verfahrens werden diskutiert.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Signatur Availability
    BibTip Others were also interested in ...
  • 4
    ISSN: 1618-2650
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Description / Table of Contents: Zusammenfassung Es wird über die metallurgische Bedeutung und die analytische Charakterisierung von Spurengehalten von Phosphor in Hartmetallen und deren Ausgangsprodukten berichtet. Für die quantitative Durchschnittsanalyse von Phosphorgehalten von wenigen μg/g kann SIMS erfolgreich eingesetzt werden. Diese Methode verfügt über die entsprechende Nachweisstärke sowie ausreichende Richtigkeit und ermöglicht es, die Herkunft der Phosphorspuren und die Änderung des Phosphorgehaltes beim Sintern zu ermitteln. Die Verteilungsanalyse an Bruchflächen mit Scanning-AES liefert die wichtige Information, daß P in einer nur wenigen Nanometer dicken Interfacezone zwischen den Carbidphasen angereichert vorliegt.
    Notes: Summary The metallurgical significance and the analytical characterization of trace amounts of P in hard metals and raw materials is discussed. For quantitative bulk analysis in the low (μg/g-range SIMS can be used sucessfully. This method provides the necessary detection power and results of sufficient accuracy and enables to explain the origin of these trace contents of P and the study of the change of the P-concentration during sintering. Distribution analysis of fracture surfaces with Scanning AES yields the important information that P is mainly present in an interface zone of a few nanometers thickness between the carbide phases.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Signatur Availability
    BibTip Others were also interested in ...
  • 5
    ISSN: 1618-2650
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Description / Table of Contents: Summary A transient secondary ion signal enhancement during sputtering through the interface of a two-layer target of Si3N4/GaAs could be demonstrated to be an artefact caused by the bombardment with oxygen ions, which were used as a primary beam. A simple model is established which describes ion-induced composition changes during sputtering (sputter-emission and recoil implantation from the surface, cascade mixing, and implantation of projectiles). The application of this model permits the simulation of internal profiles of a trace element, the matrix atoms and of implanted primary ions, and consequently the simulation of the emitted particle flux during sputtering. These calculations indicate an accumulation of implanted primary ions at the GaAs-side of the interface which considerably enhances the yield of positive secondary ions in this zone. The calculated response fits experimental data within a factor of less than 2.
    Notes: Zusammenfassung Bei der Analyse von Verunreinigungen (Chrom) in Si3N4-Schichten auf GaAs mit der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) tritt am Schichtübergang ein transienter Anstieg der Intensität positiver Sekundärionen von Chrom und Arsen auf. Es wird experimentell gezeigt, daß dieser Anstieg nicht auf das Vorhandensein einer parasitären Zwischenschicht aus Chrom oder eines Oxides, sondern auf den Beschuß mit einem Sauerstoff-Primärstrahl zurückzuführen ist. Es wurde ein einfaches Modell erstellt, das die ioneninduzierten Veränderungen der gesputterten Probe beschreibt (Sputter-Emission und Recoil-Implantation aus der Oberfläche, Vermischung der Matrixatome durch Kaskadenmischung, Implantation der Primärionen). Die numerische Simulation der SIMS-Messung durch Anwendung dieses Modelles auf die untersuchten Proben zeigt eine Anhäufung implantierter Primärionen knapp hinter dem Schichtübergang. Im Fall von Sauerstoff erhöht dieser lokal die Ausbeute an positiven Sekundärionen. Der erechnete Verlauf dieser Signalüberhöhung stimmt innerhalb eines Faktors 〈 2 mit den Experimenten überein.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Signatur Availability
    BibTip Others were also interested in ...
  • 6
    ISSN: 1618-2650
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Description / Table of Contents: Summary Dark green coloured panes, consisting of lead oxide, potash, lime, magnesia, silica and phosphorus oxide show minor corrosion phenomena compared with other stained glasses used in medieval painted windows. Surface layers and leaching zones on such naturally weathered glass samples can be succesfully characterized by SIMS. This analytical technique enables quantitative depth profiling of the main and trace components of the glass as well as the depth distribution of hydrogen. With the use of relative sensitivity factors of the elements and the different sputtering coefficients of the various layers, a quantification of the depth profiles is possible. According to the results, an ion exchange process leads to incorporation of water and depletion of the glass components potassium, calcium, sodium and lead at the glass surface. The leached elements form precipitations with components of the ambient atmosphere (CO2, SO2 etc.). A layer containing compounds of low solubility is built up, which protects the glass surface from further attack by water and moisture.
    Notes: Zusammenfassung Die Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) wurde zur Charakterisierung von Oberflächenschichten natürlich verwitterter Bleigläser aus mittelalterlichen Glasgemälden verwendet. Diese Gläser enthalten als Hauptkomponenten Kalium-, Calcium-, Silicium- sowie Blei- und Phophoroxid und weisen im Gegensatz zu den übrigen, in Glasgemälden verwendeten gefärbten und ungefärbten Gläsern wesentlich geringere Verwitterungsschäden auf. Mit Hilfe der relativen Empfindlichkeitsfaktoren und unter Berücksichtigung der unterschiedlichen Sputterkoeffizienten in den einzelnen Schichten ist es möglich, die Tiefenprofile zu quantifizieren. Dabei zeigt sich, daß die aufgrund des Verwitterungsprozesses an der Glasoberfläche ausgebildete Gelzone an Blei, Alkalien und Erdalkalien gegenüber dem Bulk verarmt ist. Reaktionen dieser gegen Bestandteile des Wassers ausgetauschten Elemente mit Bestandteilen der Luft (CO2, SO2 usw.) führten zur Ausbildung einer weitgehend kompakten Oberflächenzone, die in erster Linie aus wasserunlöslichen Verbindungen besteht und die darunter liegende Glasoberfläche vor einem weiteren Angriff durch Wasser und atmosphärische Schadstoffe schützt.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Signatur Availability
    BibTip Others were also interested in ...
  • 7
    ISSN: 1618-2650
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Description / Table of Contents: Summary The embrittlement of heavy metals of the type W96FeNi4 at phosphorus concentrations above 100 μg/g is a phenomenon of considerable scientific and technical interest. In order to obtain information on the cause of embrittlement the behaviour of phosphorus as a function of technological parameters, particularly the cooling rate after sintering, has to be investigated. By application of SIMS and TEM it could be shown that phosphorus segregates to the grain boundary tungsten-binder during cooling, and that segregation increases with decreasing cooling rate. By quantitative micro trace analysis with SIMS the solubility limit of P in W could be determined. TEM showed that microprecipitates of a typical diameter of 5 nm are formed in the binder phase during cooling. Larger precipitates in the range 100–1000 nm occur at the grain boundaries tungsten-binder. By electron diffraction with computerized evaluation of the patterns these precipitates could be identified as NiP2 phases. A major methodological result is that the combination of SIMS and TEM exhibits a great potential for the study of the influence of trace elements on material properties.
    Notes: Zusammenfassung Die Versprödung von Schwermetallen des Typs W96FeNi4 bei Phosphorkonzentrationen von größer als 100 μg/g ist von beträchtlichem technischen und wissenschaftlichen Interesse. Um die Ursache für die Versprödung aufzuklären, müssen Informationen über das Verhalten von Phosphor als Funktion technologischer Parameter, insbesondere der Abkühlgeschwindigkeit nach dem Sintern gewonnen werden. Durch kombinierten Einsatz von SIMS und TEM konnte gezeigt werden, daß Phosphor bei der Abkühlung an die Korngrenze Wolfram — Binderphase segregiert und daß die Segregation mit langsamerer Abkühlgeschwindigkeit zunimmt. Weiterhin konnte die Löslichkeit von Phosphor in den Wolframphasen durch quantitative Mikrobereichsanalyse mit SIMS bestimmt werden. Mittels TEM wurde festgestellt, daß beim Abkühlen Mikropräcipitate mit einem typischen Durchmesser von 5 nm gebildet werden. Größere Präcipitate von ca. 100–1000 nm Durchmesser finden sich an den Korngrenzen. Mittels Elektronenbeugung und Computerauswertung der Beugungsmuster können diese Präcipitate als NiP2 identifiziert werden. Ein weiteres methodisch orientiertes Ergebnis dieser Untersuchungen ist, daß die Kombination SIMS und TEM ein großes Potential für die Untersuchung des Einflusses von Spurenelementen auf Werkstoffeigenschaften aufweist.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Signatur Availability
    BibTip Others were also interested in ...
  • 8
    ISSN: 1618-2650
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Notes: Summary The ever increasing demands on properties of materials creates a trend also towards ultrapure products. Characterization of these materials is only possible with modern, highly sophisticated analytical techniques such as activation analysis and mass spectrometry, particularly SSMS, SIMS and GDMS [1]. Analytical strategies were developed for the determination of about 40 elements in a tungsten matrix with high-performance SIMS. Difficulties like the elimination of interferences had to be overcome. Extrapolated detection limits were established in the range of pg/g (alkali metals, halides) to ng/g (e. g., Ta, Th). Depth profiling and ion imaging gave additional information about the lateral and the depth distribution of the elements.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Signatur Availability
    BibTip Others were also interested in ...
  • 9
    ISSN: 1618-2650
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Notes: Summary NRA and SIMS measurements were carried out with samples from naturally weathered medieval glass paintings in order to study the quantitative depth distribution of hydrogen in the surface layers. The major parts of the profiles show good agreements in shape and depth. Nevertheless, differences were observed in the near-surface region. It could be shown that proper attention has to be paid to the vacuum environment of the instruments and to sample preparation before evacuation in order to avoid evaporation of hydrogen containing species incorporated into the silicate structure during leaching or weathering.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Signatur Availability
    BibTip Others were also interested in ...
  • 10
    ISSN: 1618-2650
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Notes: Summary The potential of SIMS for multielement ultratrace bulk analysis in refractory metals has already been shown in previous publications [1, 2]. In this paper it will be demonstrated, that the high sensitivity of SIMS can be used advantageously for high resolution distribution analysis. Due to the high useful yield (0.5 to 10−5) it is possible to perform distribution analysis in the ng/g range with a sample consumption of about 1 pg per data point. A good lateral resolution of about 1 μm and the variability of the sputtering rate over 3 orders of magnitude allow an optimization of the measurement parameters with respect to the sample geometry. This is of special importance in our work, because small lateral dimensions, high total sputtering depth (300 μm) and crooked surfaces have to be considered. In this paper also the technical significance of sensitive high resolution distribution analysis of tantalum wires, which are used for microelectronic applications, will be discussed.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Signatur Availability
    BibTip Others were also interested in ...
Close ⊗
This website uses cookies and the analysis tool Matomo. More information can be found here...