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    ISSN: 1618-2650
    Source: Springer Online Journal Archives 1860-2000
    Topics: Chemistry and Pharmacology
    Description / Table of Contents: Zusammenfassung Zur Bestimmung des Kohlenstoffgehaltes in Halbleitersilicium wurde ein schon bekanntes analytisches Verfahren weiterentwickelt, indem das Silicium in starker Natronlauge gelöst und aus dem unlösbaren Rückstand der Kohlenstoff durch Umsatz mit einem Oxydationsmittel als Kohlendioxid freigesetzt und gas-chromatographisch bestimmt wird. Die Methode zeichnet sich durch geringe Störanfälligkeit und hohe Nachweisempfindlichkeit aus.
    Notes: Abstract A known process has been further developed in order to determine the carbon concentration in semi-conductor silicon. The silicon was dissolved in strong caustic soda solution, the insoluble residue of carbon was oxidised and the resulting carbon dioxide was determined gas-chromatographically. The method was proved to have a high measurement sensitivity and to be relatively insusceptible to external disturbances.
    Type of Medium: Electronic Resource
    Signatur Availability
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